晶圓切割/裂片是芯片制造過程中的重要工序，屬于先進(jìn)封裝(advancedpackaging)的后端工藝(back-end)之一，該工序可以將晶圓分割成單個(gè)芯片，用于隨后的芯片鍵合。隨著技術(shù)的不斷發(fā)展，對(duì)高性能和更小型電子器件的需求增加，晶圓切割/裂片精度及效率控制日益不可或缺。晶圓切割的重要性在于它能夠在不損壞嵌入其中的精細(xì)結(jié)構(gòu)和電路的情況下分離單個(gè)芯片，成功與否取決于分離出來的芯片的質(zhì)量和產(chǎn)量，以及整個(gè)過程的效率。為了實(shí)現(xiàn)這些目標(biāo)，目前已經(jīng)開發(fā)了多種切割技術(shù)，每種技術(shù)都有其獨(dú)特的優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)。12英寸晶圓切割中清航科解決方案突破產(chǎn)能瓶頸，良率99.3%。上海藍(lán)寶石晶圓切割刀片

針對(duì)小批量多品種的研發(fā)型生產(chǎn)需求，中清航科提供柔性化切割解決方案。其模塊化設(shè)計(jì)的切割設(shè)備可在30分鐘內(nèi)完成不同規(guī)格晶圓的換型調(diào)整，配合云端工藝數(shù)據(jù)庫，存儲(chǔ)超過1000種標(biāo)準(zhǔn)工藝參數(shù)，工程師可快速調(diào)用并微調(diào)，大幅縮短新產(chǎn)品導(dǎo)入周期，為科研機(jī)構(gòu)與初創(chuàng)企業(yè)提供靈活高效的加工支持。晶圓切割后的檢測(cè)環(huán)節(jié)直接關(guān)系到后續(xù)封裝的質(zhì)量。中清航科將AI視覺檢測(cè)技術(shù)與切割設(shè)備深度融合，通過深度學(xué)習(xí)算法自動(dòng)識(shí)別切割面的微裂紋、缺口等缺陷，檢測(cè)精度達(dá)0.5μm，檢測(cè)速度提升至每秒300個(gè)Die，實(shí)現(xiàn)切割與檢測(cè)的一體化流程，避免不良品流入下道工序造成的浪費(fèi)。徐州芯片晶圓切割刀片中清航科切割實(shí)驗(yàn)室開放合作，已助力30家企業(yè)工藝升級(jí)。

針對(duì)航天電子需求，中清航科在屏蔽室內(nèi)完成切割（防宇宙射線干擾）。采用低介電刀具材料，避免靜電放電損傷，芯片單粒子翻轉(zhuǎn)率降至10??errors/bit-day。中清航科提供IATF16949認(rèn)證切割參數(shù)包：包含200+測(cè)試報(bào)告（剪切力/熱沖擊/HAST等），加速客戶車規(guī)芯片認(rèn)證流程，平均縮短上市時(shí)間6個(gè)月。中清航科殘?jiān)鼒D譜數(shù)據(jù)庫：通過質(zhì)譜分析切割碎屑成分，溯源工藝缺陷。每年幫助客戶解決15%的隱性良率問題，挽回?fù)p失超$300萬。中清航科氣動(dòng)懸浮切割頭：根據(jù)晶圓厚度自動(dòng)調(diào)節(jié)壓力（范圍0.1-5N，精度±0.01N）。OLED顯示面板切割良率提升至99.8%，邊緣像素?fù)p壞率